隨著集成電路設(shè)計(jì)技術(shù)的不斷發(fā)展，芯片復(fù)雜程度不斷增加，測試在整個產(chǎn)業(yè)環(huán)節(jié)中的作用越來越重要，成本比例越來越大。為了幫助各企業(yè)、高校加深對先進(jìn)芯片測試技術(shù)的了解，天津市集成電路行業(yè)協(xié)會、天津市集成電路設(shè)計(jì)中心特邀請香港科技園資深測試開發(fā)經(jīng)理YC. Lee來津舉辦IC測試研討會，會上YC. Lee就芯片測試、失效分析、可靠性等方面的內(nèi)容進(jìn)行深入講解和探討，并與參會嘉賓分享相應(yīng)成功案例。來自于天津大學(xué)電信學(xué)院、自動化學(xué)院、南開大學(xué)、Freescale、天津國芯、瑞發(fā)科等公司的30余名工程師、教師及學(xué)生參加了此次研討會。